解决方案-苏州联讯仪器股份有限公司

解锁1.6T AI算力接口测试——单波224Gbps采样示波器、时钟恢复单元、误码分析仪

联讯仪器始终专注于高端光电测试仪器的研发与生产。通过持续突破核心芯片与器件技术，并不断完善关键算法，联讯的采样示波器、时钟恢复单元及误码分析仪等系列产品实现了快速迭代，已逐步成为高速通信信号测试分析领域的重要工具。

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硅光技术及其量产测试

随着生成式人工智能（Generative AI）与高性能计算（HPC）加速迈向万亿级参数模型，数据传输已成为限制算力演进的核心瓶颈。传统的铜基电子互连在面对算力集群对带宽与延迟的极致渴求时，正遭遇物理层面的“功耗墙”与信号衰减的极大挑战。

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高速线缆测试解决方案

联讯仪器的高速线缆测试解决方案专为新一代 AI 基础设施量身定制。我们致力于确保每一个互连部件在带宽、可靠性和稳定性方面均达到大规模部署的严苛标准，为全球 AI 算力集群提供稳健的物理层保障。

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联讯仪器PAM4示波器：为高速光通信测试提供可靠支持

联讯仪器将持续致力于光电测试技术的创新与仪器性能的提升，为全球光通信产业发展提供坚实可靠的测试保障。

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突发误码仪在OLT 模块中的应用

无源光网络（PON）作为光纤接入网的核心技术之一，其架构以无源光分路器（POS）为关键节点，实现光线路终端（OLT）与多个光网络单元（ONU）的星型连接。在这一架构中，OLT 模块处于网络核心位置，承担着上行数据汇聚与下行数据分发的双重职责，其性能直接决定了整个 PON 系统的通信质量、稳定性及覆盖能力，是保障用户业务（如宽带上网、IPTV、语音通话等）正常运行的关键设备。

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快速波长计在可调激光器校准中的关键应用

可调谐激光器非常重要的测试就是精确波长测量和校准，随着通信通道的不断增加，从最开始的40波到目前最高达到800波，因为每个波长都需要采用波长计对可调激光器进行标定，因此快速精确波长测试比以往任何时候都更为关键。FWM8612 基于斐索干涉仪技术，结合了温度稳态控制干涉仪，多级复合干涉腔及线性阵列CCD探测器。

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半导体封装级可靠性的测试挑战和解决方案

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掌握核心技术 | 联讯仪器WAT半导体参数测试系统简介

WAT是Wafer出Fab厂前的最后一道测试工序。WAT测试通常都是利用晶圆切割道上专门设计的测试结构完成的。通过这些测试结构的组合和测试结果的分析，可以监控晶圆制造过程和工序偏差。

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精密测量新时代：攻克低漏电挑战的技术与实践

在半导体技术持续向更小尺寸、更高性能迈进的今天，皮安(pA)乃至飞安(fA)级别的低漏电测量，已成为评估器件性能与可靠性的核心指标。

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