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展会预告|联讯仪器邀您共聚SEMICON China 2026,见证“芯”测试 新精度!
发布日期:2026.03.13 访问量:313

SEMIOCN China 2026

随着高性能计算与新能源产业的持续爆发,半导体测试环节正面临着更高效率、更高精度的严苛挑战。作为国内专注于高端测试测量设备的企业,联讯仪器将携覆盖晶圆制造、第三代半导体、光通信等重磅亮相SEMICON China 2026盛会。
值此春意盎然之际,我们诚邀全球半导体行业同仁莅临展台,近距离体验联讯仪器在“仪器+设备+解决方案”全生态的最新技术成果,共同探讨智算时代的测试新机遇。
1、展品前瞻

· FAB厂设备
WAT (Wafer Acceptance Test) 系统
WAT-WLR (Wafer Level Reliability) 系统
· 高端仪表仪器
电学性能测试:SMU (数字源表) / 半导体参数分析仪
光通信高速测试:DCA (采样示波器) / BERT (误码仪) 以及针对高速线缆的Cable BERT
· SiC (碳化硅) 产品线
WLBI (Wafer Level Burn-in):晶圆级老化测试系统
KGD (Known Good Die) Handler:SiC KGD测试分选系统
· CPO (共封装光学) 产品线
sCT9002硅光晶圆测试系统
OE (Optical Engine) Die Level 测试机和分选机
2、展会信息速览

展会时间:2026年3月25日~27日
展会地点:上海新国际博览中心
联讯展位:T3馆 T3141

SEMICON China 2026 开展在即,联讯仪器蓄势待发!
我们在上海新国际博览中心【展位号:T3馆 T3141】,期待与您不见不散!

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