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激光器测试

CT6201-DC

CoC测试系统



联讯仪器CT6201测试系统是专为半导体激光器芯片测试而设计的高效、便捷测试系统,适用于CoC的大规模量产测试。
该系统采用与联讯仪器BI6201相同的测试夹具,简化芯片的上下料过程,消除了CoC在上下料过程中潜在的ESD风险。高效、稳定的光路耦合设计,确保了光学耦合和光谱测量的快速和可靠性。此外,该系统采用双夹具载台设计,每个载台都具有独立的温度控制功能。当一个载台正在进行产品测试时,另一个载台可以提前进行温度预控,从而减少了升降温的等待时间,同时与CoC夹具双侧并行测试配合,显著提高测试效率。

特点

  • CoC与探针板不分离

    老化到测试过程CoC探针板不分离
    减少探针对CoC的损伤
  • 温度控制

    支持25℃~100℃
    可定制低温版本,支持-10℃~100℃
  • 测试效率高

    CoC测试机时间<7.5s
  • 自动上下夹具

    弹夹最多可放置6个鱼骨夹具
  • 测试精度高

    阈值电流重复性:<±1%
    功率重复性:<±1%
    波长重复性:<±0.15 nm
    SMSR重复性:<5 dB
  • 自研源表

    测试系统默认集成联讯仪器自研精密源表
  • 软件功能

    所有测试结果、状态和异常记录均自动保存至数据库
    支持高效的数据存储和结果追溯查询

参数指标
芯片类型CoC
夹具类型 支持CoC老化系统相同的夹具
- 标准 48 pcs 芯片长夹具
- 标准 32 pcs 芯片短夹具
夹具取放 自动取放夹具(自动上料,自动压接,自动下料)
夹具ID扫描识别夹具Barcode自动扫描识别
并行测试 CoC夹具双侧面并行测试
标准样品控制 软件支持标准样品管控功能
如果标准样品在本机台测试超过时间周期(可配置),系统自动告警
标准样品单独管控程序
测试机台控制 软件支持测试机台管控功能,相同夹具在老化前后分别在不同的测试机台进行测试,软件会自动产生告警提示。(老化前后在同机台同工作台测试)
测试配置管控 软件支持测试配置管控,包括测试仪表,测试算法,测试序列,测试结果判断等。
测试数据 支持客户自定义、支持MES相关的需求

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