特点

脉宽:最小3μs,最大500μs
适用于更高速的被测器件,更好规避温度对测试结果的影响
高速测量
高达100MSa/s的ADC
大量程
±1.5A;10V
更强的负载适应性
测试不同特性的负载,波形不发生过冲等畸变
闭环电流控制
电流精度更高
实时读取脉冲电流和DUT压降
无需额外设备,精确监控当前测试条件,实时回读测试结果技术指标
工作条件:
温度23℃±5℃
相对湿度<70% 无冷凝
|
电流精度 |
量程 |
设置分辨率 |
精度 |
|
±150mA |
20μA |
0.1%+0.2mA |
|
|
±750mA |
20μA |
0.1%+0.3mA |
|
|
±1.5A |
40μA |
0.1%+0.8mA |
|
|
电流噪声 |
量程 |
噪声典型值(阻性负载,RMS) |
|
|
±150mA |
1mA |
||
|
±750mA |
1mA |
||
|
±1.5A |
1mA |
||
|
最大负载压降 |
10V |
||
|
脉宽分辨率 |
80ns |
||
|
最大脉宽Ton-max |
500μs |
||
|
最小脉宽Ton-min |
3μs |
||
|
脉冲最小关断时间Toff-min |
100μs |
||
|
脉宽精度 |
100ns[1] |
||
|
脉宽抖动 |
80ns(典型值) |
||
|
脉冲周期抖动 |
500ns(典型值) |
||
|
上升时间(10%-90%) |
<400ns[2][3][4] |
||
|
脉冲超调 |
<0.5%[2][3][4] |
||
|
电流调整率 |
线性调整率 |
0.05%量程 |
|
|
负载调整率 |
±100μA |
||
|
占空比限制[5] |
D≤50%;且满足以下条件: D<(3-|Ibias|)/[(Vsp-Vload)*(|Iset|-|Ibias|)] |
||
|
单次扫描最大脉冲数 |
64k |
||
[1] 偏置电流>1mA
[2] 输出线短接情况下测试
[3] 输出线与 DUT 整体电感<200nH(100k)
[4] 脉宽测量从上升沿 10%至下降沿 90%
[5] Iset:设定电流;D:占空比;Vsp:源保护电压;Vload:负载压降
|
PULSE 电压 测量 |
量程 |
显示分辨率 |
精度 |
采样速率[6] |
|
6V |
1mV |
0.1%+22mV |
100MSa/s |
|
|
10V |
1.5mV |
0.1%+24mV |
||
|
PULSE 电流 测量 |
量程 |
显示分辨率 |
精度 |
采样速率 |
|
150mA |
40μA |
0.1%+1mA |
100Msa/s |
|
|
750mA |
100μA |
0.1%+3mA |
||
|
1.5A |
200μA |
0.1%+7mA |
||
|
Sense端限制(PULSE电压测量) |
HI 与 SENSE HI 之间的最大电压 =±10V |
|||
[6] 采样速率为用户端可以使用的最大采样速率
|
电压源(DC) |
量程 |
设置分辨率 |
精度 |
纹波(RMS) |
最大输出电流 |
|
±10V |
1mV |
0.1%+1.5mV |
<5.5mV |
10mA |
|
|
电流测量(DC) |
量程 |
显示分辨率 |
精度 |
采样速率 |
正常采样速度 |
|
100μA |
30nA |
0.1%+0.5μA |
100MSa/s |
10NPLC |
|
|
100μA |
30pA |
0.1%+0.5μA |
|||
|
电压测量(DC) |
量程 |
显示分辨率 |
精度 |
采样速率 |
|
|
±10V |
1.5mV |
0.1%+15mV |
100MSa/s |
||
|
Sense 端限制 |
HI 与 SENSE HI 之间的最大电压 =±1V |
||||
|
电流精度 |
量程 |
最大电流 |
设置分辨率 |
精度 |
|
|
±0.15A |
50mA |
20μA |
0.1%+0.2mA |
||
|
±0.75A |
20μA |
0.1%+0.2mA |
|||
|
±1.5A |
40μA |
0.1%+0.2mA |
|||
|
电流噪声 |
噪声典型值(阻性负载,RMS) |
||||
|
<1mA |
|||||
|
信号电平 |
延迟 (Type[7][8][9]) |
触发模式 |
|
|
Trig_IN/OUT |
5V |
400ns |
上升沿 |
[7] 输出线短接情况下测试
[8] 输出电流>100mA
[9] 偏置电流>1mA
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