
PXle插卡式源表
S2020C
PXIe模块化10V八通道精密源表
特点

更强电流驱动
基于±10 V电压平台
最小量程高精度测量
±0.6 V电压量程精度达0.02% + 50 μV
高分辨率
1 μV / 1 pA超高精度分辨率
高采样率
最高可支持1 MS/s的ADC采样率
四线电阻测量强化
覆盖100 Ω ~ 1 MΩ量程
APFC自适应控制
可依据负载特性调节APFC参数
多重保护机制
过温触发整机电源关断功能与优势

直流/脉冲一体化源测
支持±200 mA直流、脉冲双模式输出,最小脉宽100 μs,脉宽分辨率可达1 μs,充分覆盖脉冲LIV扫描、器件热特性表征等测试需求。
|
通道数 |
8通道 |
电压输出 |
±10 V |
| 电流输出 |
±200 mA(DC/Pulse) |
电压分辨率 |
1 μV (3 V / 0.6 V档) |
| 电流分辨率 |
1 pA |
最高采样率 |
1 MS/s |
| 电压最小量程精度 |
0.02% + 50 μV (±0.6 V档) |
电流最小量程精度 |
0.05% + 300 pA (±1 μA档) |
| 最小脉宽 |
100 μs |
SWEEP点数 |
单次最大10⁶点 |
| 传感模式 |
2线/4线 |
同步触发 |
8路内部 + 1路外部DIO |
| 尺寸 |
210 × 130 × 20 mm |
重量 |
≤ 0.48 kg |
|
场景 |
应用 |
| 光电器件与LIV扫描 |
VCSEL、激光器、光电二极管等LIV曲线测试, ±200 mA脉冲/直流驱动满足中大功率光芯片需求 |
| 多通道并行测试 |
单卡8通道,支持多卡同步拓展,面向PMIC、模拟芯片、各类传感器,实现多工位并行源测,提升测试吞吐量 |
| 新材料与器件表征 |
适配MEMS、纳米材料、第三代半导体器件, 完成I‑V特性、电阻参数、脉冲热效应等科研测试 |
| 高吞吐生产测试 |
1 MS/s高速采样配合APFC快速建立,压缩单工位测试耗时, 降低多通道测试系统综合成本,助力产线高效生产 |
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