请输入搜索关键词!

Site Map

网站地图

PXle插卡式源表

S2019C

PXIe模块化40V四通道精密源表


联讯仪器S2019C 是结构紧凑、经济高效的四通道PXIe 电源/测量单元,能够同时输出和测量电压和电流,能够提供最大±40V、±500mA(直流)、±1A(脉冲),支持传统的 SCPI 命令,让测试代码的迁移变得轻松快捷,支持现有主流的 PXIe 机箱,集成度高,方便扩展多通道并可支持多卡同步,集成到生产测试系统中使用,以提高系统的测试效率并降低成本。

特点

  • 方便扩展

    4通道标准PXIe精密电源,易于扩展
  • 大量程

    量程:±40 V、±500 mA(直流)、±1A(脉冲)
  • 高分辨率

    最小测量分辨率可达1 pA/1 μV
  • 高采样率

    最高可支持1MS/s的ADC采样率

功能与优势

  • 5功能于一身

    电压源
    电流源
    电流表
    电压表
    电子负载
  • 一、三象限为源:输出V/I的实际极性跟随源设定;
    二、四象限为负载:CC和CV配合,当负载用时,负载设定极性与源极性相反;
  • 可测试各种设备

  • 捕获更多的测量数据

    ♦ 6 位的数字分辨率: 精度相当于6 位数字万用表;
    ♦ 1 pA/1 uV 分辨率: 极佳的测量灵敏度;
    ♦ 1 MS/s的ADC采样率:提供高速测量,可以快速设置/数字化率于任意波形发生器(列表扫描);
  • 丰富的扫描功能




电压源设置和测量分辨率/精度


电压精度

量程

分辨率

精度(1年)

±(%读数+偏置) 【1】

典型噪声(有效值)

0.1 Hz-10 Hz

±40 V

10μV

0.015%+1.2 mV

50 μV

±6 V

1 μV

0.015%+600 μV

10 μV

温度系数

±(0.15×精度指标)/℃(0℃-18℃,28℃-50℃)

通道【2】

CH0到CH3

输出功率

单通道最大4 W,四通道总功率最大8 W

过冲

<±0.1%(典型值,Normal,步进是范围的10%至90%,满量程点,电阻性负载测试)

噪声

10Hz-20MHz

6 V电压源,0.5 A电阻负载,<3 mVrms

【1】精度计算示例:测试6V量程1V输出的精度,则允差为:

【2】所有通道输出与大地电气隔离,但各通道输出共地(LO)

【3】本仪表有潜在的危险高压(±42 V)输出到HI /Sense HI/Guard端子,为防止电击,在开机前必须做好相关的安全防范措施。请勿将Guard端子接到任何输出(包括短接到机箱地或是输出LO),否则会损坏仪表




电流源设置和测量分辨率/精度


电流精度

量程

分辨率

精度(1年)

±(%读数+偏置)

典型噪声(有效值)

0.1Hz-10Hz

±1 A【4】【5】

500 nA

0.1% + 125 μA

20 μA

±500 mA【5】

±100 mA

100 nA

0.03% + 25 μA

2 μA

±10 mA

10 nA

0.03% + 2.5 μA

200 nA

±1 mA

1 nA

0.03% + 250 nA

20 nA

±100 μA

100 pA

0.03% + 25 nA

2 nA

±10 μA

10 pA

0.03% + 3 nA

200 pA

±1 μA

1 pA

0.03% + 500 pA

30 pA

温度系数

±(0.15×精度指标)/℃(0℃-18℃,28℃-50℃)

通道

CH0到CH3

输出功率

单通道最大4 W,四通道总功率最大8 W

过冲

<±0.1%(典型值,Normal,步进是范围的10%至90%,满量程点,电阻性负载测试)

【1】1A量程仅支持脉冲模式,精度为典型值

【2】1A和500mA量程仅支持6V电压量程

同类推荐

高速通信测试
高速通信测试

光通信网络作为信息通信的基础设施,对我国大数据、云计算、5G通信等市场的快速发展起重要的承载支撑作用,联讯仪器光通讯仪表深度覆盖光模块光器件等核心产品的测试测量,包括采样示波器,误码仪,波长计,流量仪以及通用光测量仪表等,提供经济高效的完整解决方案。

Details
电性能测试
电性能测试

高精度源表集合电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载的功能于一身,广泛应用于各类分立元器件,光伏,新能源,电池等行业的高精度测试测量,联讯仪器提供高精度的台式源表及标准PXIe机箱的插卡式PXIe源表模块,充分满足各种不同测试场景的应用。

Details
光芯片测试
光芯片测试

激光器的老化及测试是保障激光器可靠性的重要方法,通过对CoC或者裸Die的测试,提早筛选出激光器生产过程中由于工艺工序的缺陷导致的早期失效产品。联讯仪器提供从裸Die到CoC,从高温到低温-40℃的完整解决方案。联讯仪器的激光芯片老化测试方案已获得市场广泛认可。

Details
功率芯片测试
功率芯片测试

半导体前道检测主要用于晶圆加工环节,目的是检查每一步制造工艺后晶圆产品的加工参数是否达到设计的要求或者存在影响良率的缺陷,半导体后道测试设备主要是用在晶圆加工之后、封装测试环节内,目的是检查芯片的性能是否符合要求,属于电性能的检测。联讯仪器提供晶圆老化及半导体参数测试机等集成解决方案,能够满足客户日益增长的多样化需求。

Details
登录后 立即下载!

账号

密码

注册账号

姓名

请输入您的姓名 *

邮箱地址

请输入您的邮箱地址 *

邮箱验证码

请输入您的邮箱验证码

电话

请输入您的联系电话

密码

请输入您的登录密码 *

确认密码

请再次输入您的登录密码 *
找回密码

邮箱地址

请输入您的邮箱号 *

邮箱验证码

请输入您的邮箱验证码

新密码

请输入您的登录密码 *

确认密码

请再次输入您的登录密码 *