半导体参数分析仪

Z4001C - SA

PXIe 模块化 LCR 表

联讯仪器Z4001C PXIe模块化LCR表是基于PXIe架构、自动平衡电桥原理的新一代阻抗测量仪器。基本精度0.05%、20Hz-2MHz的频率范围、±40V直流偏置输出、20V交流信号输出、5.6ms的快速测量周期，可以满足各种元件及材料的测量要求。同时PXIe架构能大幅缩减测量仪器的空间成本，支持多板卡的同步测量，进一步提高测量效率。

申请样机

特点

频率范围
20Hz至2MHz
最小频率分辨率1mHz
基本精度
可实现0.05%的基本测量精度
并保持优秀的测量可重复性
快速测量
SHORT模式下提供5.6ms的快速测试周期
直流偏置
最高±40V的直流偏置信号
参数扫描
支持单边和双边的线性，对数，列表扫描
支持最高100万点扫描模式
支持扫描参数：交流电压、偏置电压、交流频率
自动量程
支持单点，扫描自动量程
补偿功能
开路补偿、短路补偿和负载补偿
多重保护
过温保护：当检测到内部温度高于65℃时，关断系统电源
过流过压保护：当发生时板卡亮红灯，发硬件复位命令或断电重启，可恢复操作

功能与优势

测量精度
测试条件：测试电压1Vrms，线缆长度0米，测量模式MED。

测试功能

测试名称	参数
电容测试	Cp-G,Cp-D,Cp-Q,Cp-Rp,Cs-Rs,Cs-D,Cs-Q
电感测试	Lp-G,Lp-D,Lp-Q,Lp-Rp,Ls-Rs,Ls-D,Ls-Q
阻抗/电阻测试	R-X,G-B,Z-θd,Y-θd,Z-θr,Y-θr

基本精度

测试频率[Hz] 测量模式 SHORT	测试信号电压
测试频率[Hz] 测量模式 SHORT	5 mVrms≤-<50 mVrms	50 mVrms≤-<0.3 Vrms	0.3 Vrms≤-<1 Vrms	1 Vrms≤-<10 Vrms	10 Vrms≤-<20 Vrms
20-125	0.6%×(50 mVrms/Vs)	0.60%	0.30%	0.30%	0.30%
>125-1 M	0.2%×(50 mVrms/Vs)	0.20%	0.10%	0.20%	0.20%
>1 M-2 M	0.4%×(50 mVrms/Vs)	0.40%	0.20%	0.30%	0.30%
测试频率[Hz] 测量模式 MED、LONG	测试信号电压
测试频率[Hz] 测量模式 MED、LONG	5 mVrms≤-<50 mVrms	50 mVrms≤-<0.3 Vrms	0.3 Vrms≤-<1 Vrms	1 Vrms≤-<10 Vrms	10 Vrms≤-<20 Vrms
20-125	0.6%×(50 mVrms/Vs)	0.30%	0.20%	0.20%	0.20%
>125-1 M	0.2%×(50 mVrms/Vs)	0.10%	0.05%	0.10%	0.25%
>1 M-2 M	0.4%×(50 mVrms/Vs)	0.30%	0.20%	0.20%	0.30%

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